扫描电子显微镜

扫描电镜分析与eds能力

扫描电子显微镜(SEM)是一种强大的工具，它用电子束扫描样品，产生放大的图像进行分析. 高度放大的图像为失效分析提供了一种强大而有效的微观分析技术工具, dimensional analysis, contaminant analysis, particle analysis, and reverse engineering. 断裂表面产生的图像通常用于确定破坏的模式和机制.

MODERN SEM FACILITIES

我们在达拉斯的表面分析实验室, TX metroplex提供一流的扫描电子显微镜服务, 利用蔡司和Jeol sem，包括EDAX和热能色散x射线光谱(EDS)功能的化学成分.

扫描电镜分析实验室将允许您查看表面特征在5至300,000X的放大倍率为您提供高品质, depth of field images. 当与附加到每个SEM的EDS探测器一起使用时, 表面特征的化学成分很快得到. 虽然常用于金属和矿物, MES光束实验室包括一个可变压力系统，能够以最少的准备分析非导电样品(如聚合物).

SEM ANALYSIS REPORTS

在你的金属测试或分析完成后, 将提供EDS测试数据的综合报告, high magnification images, 参考测试规范, 还有材料工程师的解释.

THE SEM ANALYSIS ADVANTAGE

扫描电子显微镜(SEM)是失效分析的重要工具, 帮助工程师和科学家调查和了解材料和部件失效背后的原因.

下面是SEM在失效分析中的应用:

1. 详细的表面成像:扫描电镜提供了失效材料表面的非常详细的图像, 允许分析人员检查断裂面, cracks, corrosion, 或者其他任何可见的损伤. 扫描电镜的高倍率和高分辨率有助于揭示破坏特征的形态和形貌.

2. 显微结构分析:扫描电镜可以检查材料的微观结构. 通过适当地准备样品, 如通过抛光和蚀刻, 分析人员可以研究晶粒结构, phase distribution, 以及任何可能导致失败的微观结构异常.

3. 元素成分分析:扫描电镜可以进行能量色散x射线光谱(EDS)或x射线微量分析, 这有助于识别和量化失效材料的元素组成. 这种分析可以揭示杂质的存在, contaminants, 或者合金成分的变化可能在失败中起了作用.

4. 断裂面分析:扫描电镜允许研究人员分析失效部件的断裂面. 通过检测断裂模式, crack propagation patterns, 以及疲劳条纹或延性撕裂等特定特征的存在, 分析人员可以确定故障机制，并了解是否是由于过载造成的, fatigue, or other factors.

5. 腐蚀分析:在腐蚀相关故障的情况下, 扫描电镜可以提供有关腐蚀产物的有价值的信息, corrosion morphology, 以及腐蚀破坏的程度. 这有助于识别腐蚀剂, 评估腐蚀机制, 指导预防措施.

6. 外部对象分析:有时，外部对象的存在会导致组件故障. 扫描电镜能够检查和识别材料表面或内部的外来颗粒或污染物, 提供它们的起源和对故障的潜在影响的见解.

利用扫描电镜进行失效分析, 工程师和科学家可以更深入地了解故障的潜在原因, 帮助改进材料的, design, manufacturing processes, 以及预防措施，以避免未来的失败. 我们卓越的仪器使我们能够以极具竞争力的价格提供示范服务.